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奧林巴斯的X射線熒光（XRF）分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學(xué)數(shù)據(jù)，從而有助于用戶快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特性。XRF技術(shù)的最新發(fā)展，增加了可測元素的數(shù)量，改進了檢出限，并降低了檢測時間。

Vanta XRF分析儀在金礦上和金礦實驗室中，可以快速方便地測量與黃金勘探相關(guān)的很多種類的樣本，而且還可以對精煉黃金產(chǎn)品進行快速準確的分析。

探途元素和蝕變地球化學(xué)

大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學(xué)特征（如上表所示）。XRF分析儀可以探測到這些地球化學(xué)特征，從而可使地質(zhì)學(xué)家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。

常見金探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型號地球化學(xué)模式）

*每個光束120秒的檢測時間，無干擾的二氧化硅基質(zhì)；請參閱奧林巴斯有關(guān)檢出限的文件，了解有關(guān)更低檢出限的詳細探討說明。

用于探測金元素的XRF分析儀

眾所周知，手持式XRF分析儀不能對地質(zhì)樣本中低含量的金元素進行直接檢測（如：低ppm和ppb值）。基于實驗室的火試金法被普遍認為是分析金元素的首選方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個區(qū)域中，來自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會使分析儀得出錯誤的金元素存在的判斷。

不過，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對來說沒有干擾）或在精煉的金產(chǎn)品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析儀對金元素進行直接檢測。

圖像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中對來自手持式XRF分析儀的資產(chǎn)規(guī)模數(shù)據(jù)的使用 – 優(yōu)勢和局限性，地球化學(xué)：勘探，環(huán)境，分析。
來自加拿大的金元素勘探項目，XRF分析儀在野外繪制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值線圖對比ICP分析。

金礦上越來越多的實驗室正在使用XRF技術(shù)替代或補充火試金法，對礦石進行分析。在礦山上，工作人員也會使用奧林巴斯手持式XRF分析儀檢測活性炭中的金元素。